研究設備

その他設備:早稲田大学物性計測センター https://www.cf.waseda.ac.jp/


  • NEW‼ 円偏光ルミネセンス測定システム(CPL-300F)

150 WオゾンレスXeランプを励起光源とし、280 nm、365 nm、および500 nmなどの励起光(フィルター分光)を用いた円偏光発光(CPL)測定が可能です。溶液試料および薄膜試料に対応しており、磁場印加下(1.6T)での磁気円偏光発光(MCPL)測定の可能です。
    NEW‼ 円偏光ルミネセンス測定システム(CPL-300F)

    150 WオゾンレスXeランプを励起光源とし、280 nm、365 nm、および500 nmなどの励起光(フィルター分光)を用いた円偏光発光(CPL)測定が可能です。溶液試料および薄膜試料に対応しており、磁場印加下(1.6T)での磁気円偏光発光(MCPL)測定の可能です。
  • 走査型プローブ顕微鏡(SPM-9700HT )

スピン偏極電流の局所測定が可能です(スピンコンダクティブAFM)。光照射下での微小電流計測、表面電位(KFM)測定などにも対応しています。また、露点−8 ℃の低湿度環境で測定できるため、大気中で劣化しやすい試料の評価にも適しています。
    走査型プローブ顕微鏡(SPM-9700HT )

    スピン偏極電流の局所測定が可能です(スピンコンダクティブAFM)。光照射下での微小電流計測、表面電位(KFM)測定などにも対応しています。また、露点−8 ℃の低湿度環境で測定できるため、大気中で劣化しやすい試料の評価にも適しています。
  • NEW‼ 示差走査熱量計(DSC-60plus)

材料の相転移、熱安定性、結晶化・融解挙動などを評価することができます。-50~500 ℃の温度範囲で測定可能です。
    NEW‼ 示差走査熱量計(DSC-60plus)

    材料の相転移、熱安定性、結晶化・融解挙動などを評価することができます。-50~500 ℃の温度範囲で測定可能です。
  • 円偏光照射電流電圧測定システム

半導体レーザー光を直線偏光子および1/4波長板により円偏光へ変換し、デバイス背面から照射することが可能です。
最大8素子の同時(連続)測定にも対応しています。
    円偏光照射電流電圧測定システム

    半導体レーザー光を直線偏光子および1/4波長板により円偏光へ変換し、デバイス背面から照射することが可能です。
    最大8素子の同時(連続)測定にも対応しています。
  • renewed!! 角度依存円偏光照射電流電圧測定システム

入射角度を制御しながら、円偏光および直線偏光を
サンプル上部から照射することが可能です。
単結晶試料における光起電力測定など、角度依存特性の評価に対応しています。
    renewed!! 角度依存円偏光照射電流電圧測定システム

    入射角度を制御しながら、円偏光および直線偏光を
    サンプル上部から照射することが可能です。
    単結晶試料における光起電力測定など、角度依存特性の評価に対応しています。
  • new!! 卓上電子顕微鏡(SEM Phenom G6 ProX  )

簡単、スピーディに粒子形状やデバイス断面の観察・分析が可能です(SEM像表示まで1分以内)。
高輝度・長寿命のCeB6電子銃を搭載、反射電子・二次電子像の観察、EDS分析が可能です。
    new!! 卓上電子顕微鏡(SEM Phenom G6 ProX )

    簡単、スピーディに粒子形状やデバイス断面の観察・分析が可能です(SEM像表示まで1分以内)。
    高輝度・長寿命のCeB6電子銃を搭載、反射電子・二次電子像の観察、EDS分析が可能です。
  • 円二色性分散計(J-1500)

溶液(250~1600nm)および固体(250~900nm)の円偏光二色性(CD)スペクトルを測定できます。
直線偏光(LD)などの同時測定が可能です。
固体サンプルは積分球を用いた拡散反射法により測定、微小セルホルダを用いることで、少量試料も測定にも対応しています。
磁場印加下(1.6T)でのCD測定(MCD)も可能です。
    円二色性分散計(J-1500)

    溶液(250~1600nm)および固体(250~900nm)の円偏光二色性(CD)スペクトルを測定できます。
    直線偏光(LD)などの同時測定が可能です。
    固体サンプルは積分球を用いた拡散反射法により測定、微小セルホルダを用いることで、少量試料も測定にも対応しています。
    磁場印加下(1.6T)でのCD測定(MCD)も可能です。
  • 絶対PL量子収率測定装置(Quantaurus-QY Plus)

1650 nmまでの近赤外領域測定、高感度測定(低量子収率の評価)、アップコンバージョン発光測定が可能です。
励起光源は、高出力キセノンランプ、ダイオードレーザー(980・793・630nm)を選択できます。
    絶対PL量子収率測定装置(Quantaurus-QY Plus)

    1650 nmまでの近赤外領域測定、高感度測定(低量子収率の評価)、アップコンバージョン発光測定が可能です。
    励起光源は、高出力キセノンランプ、ダイオードレーザー(980・793・630nm)を選択できます。
  • アップコンバージョン評価システム

1550nm, 980nmおよび808nmレーザーを集光し(ミラーで波長切り替え)、アップコンバージョン材料に照射します。
小型分光器でスペクトルと強度を測定します。
    アップコンバージョン評価システム

    1550nm, 980nmおよび808nmレーザーを集光し(ミラーで波長切り替え)、アップコンバージョン材料に照射します。
    小型分光器でスペクトルと強度を測定します。
  • 蛍光寿命測定装置 (Quantaurus-Tau)

波長領域380 nm ~ 1030 nm、サブナノ秒~ミリ秒の蛍光寿命を測定できます。
固体、薄膜、粉体での測定が可能です。
Xeフラッシュランプでアップコンバージョンの寿命も測定できます。
    蛍光寿命測定装置 (Quantaurus-Tau)

    波長領域380 nm ~ 1030 nm、サブナノ秒~ミリ秒の蛍光寿命を測定できます。
    固体、薄膜、粉体での測定が可能です。
    Xeフラッシュランプでアップコンバージョンの寿命も測定できます。
  • 示差熱・熱重量同時測定 熱分析装置(DTG-60)

窒素ガス雰囲気下で示差熱・熱重量(TG/DTAの同時測定ができます。
    示差熱・熱重量同時測定 熱分析装置(DTG-60)

    窒素ガス雰囲気下で示差熱・熱重量(TG/DTAの同時測定ができます。
  • インクジェット吐出実験装置

吐出液滴を観察しながら、ペロブスカイト前駆体溶液などを高精度に吐出・パターニングすることができます。
結晶膜を用いたデバイスの試作が可能です。
    インクジェット吐出実験装置

    吐出液滴を観察しながら、ペロブスカイト前駆体溶液などを高精度に吐出・パターニングすることができます。
    結晶膜を用いたデバイスの試作が可能です。
  • デスクトップX線回折装置(MiniFlex)

高速1次元検出器D/teX Ultra2を用いた薄膜や粉末試料の測定が可能です。
    デスクトップX線回折装置(MiniFlex)

    高速1次元検出器D/teX Ultra2を用いた薄膜や粉末試料の測定が可能です。
  • センサーガスクロマトグラフ

水素を10ppbから高感度に検出・定量することができます。
    センサーガスクロマトグラフ

    水素を10ppbから高感度に検出・定量することができます。
  • エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX-7200)

軽元素の高感度測定(真空測定)や微量分析が可能です。
    エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX-7200)

    軽元素の高感度測定(真空測定)や微量分析が可能です。
  • 紫外可視分光光度計(UV-2600)

積分球ユニットを用いた固体測定や直線偏光吸収測定も可能です。
    紫外可視分光光度計(UV-2600)

    積分球ユニットを用いた固体測定や直線偏光吸収測定も可能です。
  • 分光蛍光光度計(FP-8600)

測定波長範囲(200-1010nm)、直線偏光発光、液体窒素温度での測定が可能です。
    分光蛍光光度計(FP-8600)

    測定波長範囲(200-1010nm)、直線偏光発光、液体窒素温度での測定が可能です。
  • 赤外分光光度計(FT-IR/4600)

ATR(全反射吸収測定)、RAS(高感度反射測定、偏光対応)、拡散反射測定が可能です。
    赤外分光光度計(FT-IR/4600)

    ATR(全反射吸収測定)、RAS(高感度反射測定、偏光対応)、拡散反射測定が可能です。
  • 粒子径分布測定装置(Litesizer 500)

動的光散乱法 (DLS)による粒子径計測が可能です。
また、電気泳動光散乱法によるゼータ電位測定を行うことができます。
    粒子径分布測定装置(Litesizer 500)

    動的光散乱法 (DLS)による粒子径計測が可能です。
    また、電気泳動光散乱法によるゼータ電位測定を行うことができます。
  • ドライ・クリーンブース(<class1000, 湿度<20%)

クリーンかつ湿度20%以下の環境で、薄膜材料やデバイスを安定的に作製・評価することができます。
    ドライ・クリーンブース(<class1000, 湿度<20%)

    クリーンかつ湿度20%以下の環境で、薄膜材料やデバイスを安定的に作製・評価することができます。
  • 自動塗布成膜(スピンコート)装置

ペロブスカイト薄膜(貧溶媒法)やホール輸送層を自動で成膜(スピンコート)することができます(ペクセル・テクノロジーズ社製)。
スピンコート成膜における人依存が低減され、均一な膜を高い再現性で成膜可能です。
    自動塗布成膜(スピンコート)装置

    ペロブスカイト薄膜(貧溶媒法)やホール輸送層を自動で成膜(スピンコート)することができます(ペクセル・テクノロジーズ社製)。
    スピンコート成膜における人依存が低減され、均一な膜を高い再現性で成膜可能です。
  • new!! Sagami_2ポートグローブボックス
    new!! Sagami_2ポートグローブボックス
  • 真空&温度自動制御装置

真空圧や温度制御が難しいアップコンバージョンナノ粒子の合成時に使用します。
高い精度でナノ~マイクロサイズの粒子を均一に合成できます。
    真空&温度自動制御装置

    真空圧や温度制御が難しいアップコンバージョンナノ粒子の合成時に使用します。
    高い精度でナノ~マイクロサイズの粒子を均一に合成できます。
  • 真空蒸着装置(抵抗加熱式、SVC-700TMSG/7PS800E)

金属(電極)蒸着のほか、有機物の蒸着も可能です。
    真空蒸着装置(抵抗加熱式、SVC-700TMSG/7PS800E)

    金属(電極)蒸着のほか、有機物の蒸着も可能です。
  • スピンコーター(MS-A100 )
    スピンコーター(MS-A100 )
  • 真空ライン(ナノ粒子合成)
    真空ライン(ナノ粒子合成)
  • UVオゾン処理装置
    UVオゾン処理装置